可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

產(chǎn)品型號：HL-80系列

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱概述：

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲存；可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。

箱體結(jié)構(gòu)

全部功能采用計算機(jī)控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時間的參數(shù)，使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換，按設(shè)定值自動進(jìn)行。

冷箱、熱箱獨(dú)立控制，箱門互相獨(dú)立，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍。

產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)

主控制器采用進(jìn)口高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。

該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時間、加熱器工作狀態(tài)，PID參數(shù)自整定功能。控制程序的編制采用人機(jī)對話方式，僅需設(shè)定溫度，就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動運(yùn)行功能。

控制系統(tǒng)具備完善的檢測裝置能自動進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。

報警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。

設(shè)定精度：溫度：0.1℃ 時間：Is用戶程序容量：10×99段。

運(yùn)行方式：程序運(yùn)行，恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時間累計計時器。

低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間小于等于15秒。

溫度恢復(fù)時小于等于5分鐘

恒溫恒濕試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)

制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī)：為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口法國全封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。

復(fù)疊式冷　系統(tǒng)包含一個高溫制冷循環(huán)和一個低溫制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器是也到能量傳遞的作用，將工作室內(nèi)熱能通過兩級制冷系統(tǒng)傳遞出去，實(shí)現(xiàn)隆溫的目的。

制冷系統(tǒng)的設(shè)計應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù)，一種行之有效的處理方式既能保證在制冷機(jī)組正常運(yùn)行的情況下又能對制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效的調(diào)節(jié)。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱采用進(jìn)口可編程溫度控制器,PID算法,LCD顯示設(shè)定和測量溫度，溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡單,程式編輯容易；

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱*的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品溫度均勻度;

全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高;

完善的安全保護(hù)裝置,確保產(chǎn)品的運(yùn)行更加安全可靠;

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。

機(jī)械鈑金結(jié)構(gòu)

　　箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。

　　箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑。

　　采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠。

　　大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用多層玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

　　設(shè)有獨(dú)立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。

　　可選配記錄儀，打印機(jī)能打印記錄設(shè)定參數(shù)和掃描出溫濕度變化曲線，4～20mA標(biāo)準(zhǔn)信號。

　　箱體左側(cè)配一直徑50mm的測試孔。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法

5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法

6. GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法

7. GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)

8. GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)

9. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

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